晶体管特性仪是电子测试仪器的一类，用于检测半导体器件的特性参数，分析半导体器件的工作性能，用于测量二极管及晶体管特性曲线。该仪器一般由放大器组成，可用来测试晶体管的正向特性（网络分析）、反向特性（斜率曲线）和放大特性（增益曲线），也可支持非线性函数衰减曲线的测试。
晶体管特性仪具有设计简洁大方、性能有保证、用户操作方便等优点，精度、准确率等技术指标较高。另外，还具备自动测试、实时监测、抗干扰能力强等优良性能，即使在恶劣的环境条件下，也可保持较高的测量精度，提高电阻电压线路的可靠性和安全性。
晶体管特性仪适用于电路分析、电路模拟、电子工程试验教学及研究等各个方面，可为技术及研究人员提供更加完善的测试工具，实现细节检验及精度高的测试结果。通过晶体管特性仪，不但可以减少电子元器件的概念解析及设计时间，还可以用于对电子工程师及研究人员的培训。
总之，晶体管特性仪具有优良的性能，它既可以帮助用户分析半导体器件的特性参数，也可以用于教学及研究，是电子测试仪器的一项重要技术。
