晶体管输出特性曲线测试是半导体电子学中晶体管最基本的实验，目的是利用可调变量的偏置点、恒流源以及电压来测量晶体管的输出特性曲线。
该实验要求安装一套基本晶体管输出特性曲线测试电路，能够给出晶体管的准确特性曲线。晶体管的特性曲线包括输出阻抗曲线（OE-22）、最大出力曲线（OM-1）、最大输入电流曲线（I D-1）、功率因数曲线（PF-1）以及输出电压曲线（OV-1）等。
测试电路的基本结构是：由可调变量偏置电源、电流源、电流表、电压表以及晶体管组成，I/V特性曲线是在偏置电源恒定电压、电流源恒定电流情况下，测量晶体管的输出特性曲线。实验室设置者应首先将可调变量电源推到恒定电压，然后比对电流表和电压表的读数，找出晶体管的特性曲线。
晶体管输出特性曲线测试电路的实验可以帮助大家理解晶体管的基本性质，了解其输出特性及其对偏压和电流的敏感性。此实验能够加深对晶体管原理的了解，获得深入的知识和一些实际技术操作的熟练程度，为以后的设计应用提供帮助。
