简易晶体管特性图示仪设计

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简易晶体管特性图示仪设计

晶体管(transistor)作为应用最为广泛的半导体器件,它包括大量的特性,因此要实现晶体管的有效性能评估,尤其是什么样的特性对整个系统有着超重要的影响,因此测量晶体管特性以及表示它们是非常必要的。为此,参考原理性能复杂,设计一台简易性能良好的晶体管特性图示仪,将是非常有用的。

本文通过介绍一种新型的简易晶体管特性图示仪设计方法,它首先需要实现两种模式:一种是用来测量晶体管特性的输入模式,另一种则用于表示测量结果的输出模式。

首先,晶体管特性图示仪的输入模式使用多晶体管测试元件,以模拟晶体管的特性运行。然后将这些元件的输出通过低谐振滤波器传递给数字采样器,在数字化的过程中,会得到晶体管特性的更精确的图像。随后,晶体管特性图的数据将被传送到电脑,以便进行下一步的分析和处理。

接下来是晶体管特性图示仪的输出模式。输出模式采用多屏综合技术,采用电脑多屏显示技术,将数据尽可能完美的输出,进行晶体管特性图的实时显示与对比。

本文采用简易的设计方案,提出了一种以多晶体管测试元件为工作基础,结合有效的低谐振滤波器以及数字采样器的简易晶体管特性图示仪设计方案,可以提供更精确的晶体管特性信息,实时显示,有效地测量,记录和评估晶体管的性能。

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