晶体管是半导体器件的一种，是由三个端口组成，从输入到输出的电信号可以通过晶体管的放大电路实现。因此，如果要确定一个晶体管的性能参数，需要对它进行测试。晶体管的测试也将决定产品性能是否按计划实施。
晶体管测试大体包括以下几个方面：首先要检查标识和连接的耐久性，以及封装的外观质量；其次通过量测器件的参数，如最大集电极饱和电流，最小集电极阈，最小发射极饱和电流等，确定其能否满足应用要求；最后，测试参数的耐久性，确保性能在正常使用温度范围内持续稳定。
此外，为了更好地评价晶体管，还可以测量绳发射极-发射极的温度系数、偏置示波器和终端阻抗的变化，以及在噪声
