晶体管是电子电路中重要的元件，它们的正确的功能取决于它们在正确的特征频率下的正确性能，因此测量和确定晶体管特征频率是一项重要的任务。
晶体管特征频率测量的典型是衰减测量，它采用通过改变输入信号和输出信号的相位关系，从而获取晶体管线性频率特性的方法。这种测量是相对简单的，它根据晶体管被测试的不同输入和输出电压或信号幅度，采用测试仪采集晶体管特征频率信息，并经过测量仪软件的分析，建立晶体管特征频率的误差曲线和衰减曲线，用以衡量晶体管特征频率的准确度。此外，还可以使用示波器、计算机和晶体管测试设备测量晶体管特征频率。
测量晶体管特征频率的准确性对电子系统的性能和稳定性有很大的影响，因此在元器件的设计，制造和采购中都必须进行特性频率的测量，确保晶体管的正常工作和性能。
