有机薄膜电容器是新一代半导体制造工艺中避免制程不良影响的重要元件。它的绝缘电阻是影响元件性能的重要指标，因此如何评价其随时间变化情况十分重要。
有机薄膜电容器的绝缘电阻具有良好的时效性，它随着时间的推移，能够改变薄膜到导体之间的绝缘性能。此外，由于有机薄膜电容器结构的复杂性，长期以来存在物理和化学的改变，因此结构本身的变化也会对绝缘电阻产生影响。
研究表明，随着时间的增长，有机薄膜电容器的绝缘电阻会逐渐降低。通常情况下，在首次测量之后短短几个小时，就会出现几十比特的下降情况，随后将出现平稳的变化过程。当长时间测试后，电容器的绝缘电阻会越来越低，直到接近稳定的状态。
因此，在处理有机薄膜电容器时，非常重要的是要充分考虑它们随时间变化的可能性，避免一些设计技术的问题，为其可靠的运作提供保障。有机薄膜电容器的绝缘电阻的随时间变化一定会影响其电性能，所以在选择有机薄膜电容器时，应充分考虑其时效性。
